阻抗分析儀LCR電橋規(guī)范與校準(zhǔn)

阻抗分析儀LCR電橋規(guī)范與校準(zhǔn)LCR電橋的標(biāo)準(zhǔn)操作流程，結(jié)合了儀器使用規(guī)范與校準(zhǔn)要點(diǎn)：

1. ?開(kāi)機(jī)與預(yù)熱?

啟動(dòng)儀器后需預(yù)熱15-30分鐘，確保內(nèi)部電路穩(wěn)定，提升測(cè)量精度?。

2. ?測(cè)試夾具連接?

使用四端開(kāi)爾文夾具（Kelvin clips）或?qū)Ｓ脺y(cè)試座，確保引腳接觸良好，避免寄生電容或接觸電阻影響結(jié)果?。

對(duì)于SMD元件，需選擇匹配的探針或測(cè)試座?。

3. ?參數(shù)設(shè)置?

?測(cè)試模式?：根據(jù)元件類型選擇L（電感）、C（電容）、R（電阻）或Z（阻抗）模式?。

?測(cè)試頻率?：

電解電容：100Hz-1kHz

陶瓷電容：1kHz-100kHz

功率電感：10kHz-100kHz

RF元件：>100kHz?

?測(cè)試電平?：根據(jù)元件阻抗范圍選擇（如10mV-2Vrms），避免信號(hào)過(guò)強(qiáng)導(dǎo)致元件損壞?。

?等效電路模型?：高損耗元件（如電解電容）選并聯(lián)模型（Cp-Rp），低損耗元件選串聯(lián)模型（Ls-Rs）?。

4. ?校準(zhǔn)操作?

?開(kāi)路/短路校準(zhǔn)?：

短路校準(zhǔn)：短接測(cè)試夾具探針，按“SHORT"鍵消除接觸電阻和寄生電感?。

開(kāi)路校準(zhǔn)：斷開(kāi)探針連接，按“OPEN"鍵消除分布電容干擾?。

?負(fù)載校準(zhǔn)?（部分儀器支持）：使用標(biāo)準(zhǔn)件（如50Ω負(fù)載）進(jìn)一步校準(zhǔn)?。

5. ?測(cè)量與數(shù)據(jù)記錄?

將被測(cè)元件接入夾具，按下“測(cè)試"鍵啟動(dòng)測(cè)量?。

觀察結(jié)果穩(wěn)定性，若波動(dòng)較大需檢查連接或調(diào)整參數(shù)?。

通過(guò)USB/RS-232接口連接電腦，使用配套軟件保存數(shù)據(jù)?。

6. ?結(jié)果分析?

對(duì)比元件標(biāo)稱值與測(cè)量值，判斷是否在公差范圍內(nèi)?。

高頻元件需關(guān)注Q值（品質(zhì)因數(shù)）和D值（損耗因數(shù)）?。

注意事項(xiàng)

校準(zhǔn)頻率建議每月一次，或環(huán)境溫度變化較大時(shí)執(zhí)行?。

測(cè)量小電阻（<1Ω）或高電阻（>1MΩ）時(shí)，需確保夾具清潔且校準(zhǔn)充分?。

測(cè)試夾具選型關(guān)鍵因素

?頻率范圍匹配?

根據(jù)被測(cè)元件的頻率特性選擇夾具，高頻元件（如100kHz以上）需選用同軸夾具或頂針式夾具（如TH26008A支持DC-120MHz），低頻測(cè)試（如5Hz-100kHz）可使用常規(guī)四端測(cè)試線?。

?元件封裝適配?

?SMD貼片元件?：推薦帶盒貼片測(cè)試線（如TH26009B，支持DC-15MHz）或頂針式夾具?。

?軸向/引腳元件?：需搭配四端帶卡夾具盒（如TH26005A/B）?。

?大面積元件?：可參考鑷子電橋夾具（如LCR-ST1）實(shí)現(xiàn)非接觸測(cè)量。

?精度與寄生參數(shù)控制?

四端對(duì)（Kelvin連接）夾具能有效消除線纜寄生阻抗，提升小阻值（如毫歐級(jí)）或小電容（如皮法級(jí)）的測(cè)量精度?。高頻測(cè)試時(shí)需注意接地設(shè)計(jì)，抑制電磁干擾?。

?環(huán)境與安全要求?

高溫/高濕環(huán)境需選擇耐候性?shī)A具，如電介質(zhì)測(cè)試夾具（TH26077）?。

高壓測(cè)試（如±42V偏置）需確保夾具絕緣等級(jí)達(dá)標(biāo)?。

操作建議

?校準(zhǔn)優(yōu)化?：使用前需執(zhí)行開(kāi)路/短路校準(zhǔn)，補(bǔ)償測(cè)試線損耗?。

?接觸檢查?：定期清潔夾具觸點(diǎn)，避免氧化導(dǎo)致接觸不良?。