損耗因子LCR阻抗分析儀校準指南

損耗因子LCR阻抗分析儀校準指南

一、校準基本流程

準備工作

確保儀器處于穩(wěn)定環(huán)境（溫度波動±1℃內，濕度<80%RH）

清潔測試夾具接觸點，使用酒精去除氧化層

準備標準校準工具：短路器（Short）、開路器（Open）及負載（Load）

校準步驟

開路校準：斷開測試夾具，選擇"開路校準"模式，儀器自動記錄寄生電容參數

短路校準：短接測試夾具，選擇"短路校準"模式，消除引線電阻和電感影響

負載校準（可選）：連接標準電阻（如50Ω/100Ω），補償系統(tǒng)阻抗失配

驗證校準

使用已知標準元件（如1μH電感、100pF電容）驗證測量誤差

確認損耗因子（D值）在預期范圍內（如陶瓷電容D<0.01）

二、關鍵注意事項

接觸穩(wěn)定性

采用四線開爾文連接法，避免接觸電阻影響（尤其<1Ω測量）

貼片元件建議使用專用探針夾具，壓力控制在0.5-1N

環(huán)境控制

遠離強電磁干擾源（如變頻器、大功率電機）

校準后等待30分鐘再測試，確保儀器溫度穩(wěn)定

常見問題處理

校準失敗：檢查夾具連接是否牢固，重新執(zhí)行開路/短路補償

數據波動：增加平均次數（建議10次以上），降低測試速度（Speed→Slow）

三、推薦校準周期

日常使用：每次更換夾具后必校準

定期維護：每月一次內部自校準（參考TH2851手冊建議）

高精度需求：每季度送檢計量機構，依據JJF(津)100-2023規(guī)范

如需具體型號的操作演示，可參考以下視頻：

校準完成后，建議使用標準元件驗證測量結果，典型誤差應滿足：

電感：±(0.1%讀數+0.05%量程)

電容：±(0.05%讀數+0.02%量程)

損耗因子：±(0.005+0.1%讀數)